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魯爾圓錐接頭綜合測(cè)試儀操作界面可選：中文/英文/中英文切換；數(shù)字閉環(huán)控制，AD采集速度為500KHz，內(nèi)碼50萬；高精度時(shí)鐘芯片，斷電存儲(chǔ)；過載報(bào)警停機(jī)保護(hù)。
魯爾圓錐接頭性能多功能測(cè)試儀合GB/T 1962測(cè)試項(xiàng)目：漏液、漏氣、分離力、旋開扭矩、易裝配性、應(yīng)力開裂、抗過載性；ISO80369/YY/T0916測(cè)試項(xiàng)目：壓力衰減泄漏、正壓液滴滴落泄漏、負(fù)壓空氣泄漏率、應(yīng)力開裂、抗軸向負(fù)載分離、抗旋開扭矩分離、抗過載（滑絲）性能等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
醫(yī)用魯爾接頭性能綜合測(cè)試儀合GB/T 1962測(cè)試項(xiàng)目：漏液、漏氣、分離力、旋開扭矩、易裝配性、應(yīng)力開裂、抗過載性； ISO80369/YY/T0916測(cè)試項(xiàng)目：壓力衰減泄漏、正壓液滴滴落泄漏、負(fù)壓空氣泄漏率、應(yīng)力開裂、抗軸向負(fù)載分離、抗旋開扭矩分離、抗過載（滑絲）性能等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
![LE80369-D上?？蒲兴扑] 魯爾錐頭耐破損性測(cè)試儀](http://img58.chem17.com/gxhpic_52d7f67001/f05c972a1daef9395e380d22b601d7ecefb00953bbff52dd1e60afb12b724d77c360edb40de1511c_300_300_5.jpg)
上?？蒲兴扑] 魯爾錐頭耐破損性測(cè)試儀高精度時(shí)鐘芯片，斷電存儲(chǔ)，壓力衰減泄漏、正壓液滴滴落泄漏、負(fù)壓空氣泄漏率、應(yīng)力開裂、抗軸向負(fù)載分離、抗旋開扭矩分離、抗過載（滑絲）性能。
魯爾圓錐接頭旋開扭矩測(cè)試儀的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)以GB/T 1962為準(zhǔn)，測(cè)試項(xiàng)目為漏液、漏氣、分離力、旋開扭矩、易裝配性、應(yīng)力開裂、抗過載性。
魯爾接頭性能綜合測(cè)試儀高精度時(shí)鐘芯片，斷電存儲(chǔ)，壓力衰減泄漏、正壓液滴滴落泄漏、負(fù)壓空氣泄漏率、應(yīng)力開裂、抗軸向負(fù)載分離、抗旋開扭矩分離、抗過載（滑絲）性能。
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